INFORMATIONお知らせ

  • 真贋判定

    2021.06.24 ｜
    半導体・電子部品が世界的に不足しており、市場に模倣品が数多く流通しております。 メーカーによっては模...

  • 断面研磨

    2021.05.18 ｜
    ...

  • DPA（破壊物理解析）試験

    2021.05.18 ｜
    ...

  • 促進耐候性試験（サンシャインウェザーメーター）

    2021.05.14 ｜
    ...

  • 紫外可視分光法　UV-Vis

    2020.12.10 ｜
    ...

  • 絶対PL量子収率測定

    2020.12.10 ｜
    ...

  • フォトルミネッセンス法 PL

    2020.12.10 ｜
    ...

  • 示差熱天秤-質量分析法 TG-DTA-MS

    2020.12.10 ｜
    ...

  • カールフィッシャー滴定法

    2020.12.10 ｜
    ...

  • 全有機体炭素測定 TOC

    2020.12.10 ｜
    ...